用万用表检测IC芯片的几种简易方法

用万用表检测IC芯片的几种简易方法
1.离线检测
  测出IC芯片各引脚对地之间的正,反电阻值.以此与好的IC芯片进行比较,从而找到故障点。
2.在线检测
  1)直流电阻的检测法同离线检测.但要注意:
    (a)要断开待测电路板上的电源;
    (b)万能表内部电压不得大于6V;
    (c)测量时,要注意外围的影响.如与IC芯片相连的电位器等.
  2)直流工作电压的测量法
    测得IC芯片各脚直流电压与正常值相比即可.但也要注意：
    (a)万能表要有足够大的内阻,数字表为首选;
    (b)各电位器旋到中间位置;
    (c)表笔或探头要采取防滑措施,可用自行车气门芯套在笔头上,并应长出笔尖约5mm;
    (d)当测量值与正常值不相符时,应根据该引脚电压,对IC芯片正常值有无影响以及其它引脚电压的相应变化进行分析;
    (e)IC芯片引脚电压会受外围元器件的影响.当外围有漏电,短路,开路或变质等;
    (f)IC芯片部分引脚异常时,则从偏离大的入手.先查外围元器件,若无故障,则IC芯片损坏;
    (g)对工作时有动态信号的电路板,有无信号IC芯片引脚电压是不同的.但若变化不正常则IC芯片可能已坏;
    (h)对多种工作方式的设备,在不同工作方式时IC脚的电压是不同的。
  3)交流工作电压测试法
    用带有dB档的万能表,对IC进行交流电压近似值的测量.若没有dB档,则可在正表笔串入一只0.1-0.5μF隔离直流电容。该方法适用于工作频率比较低的IC.但要注意这些信号将受固有频率,波形不同而不同。所以所测数据为近似值,仅供参考。
  4)总电流测量法
    通过测IC电源的总电流,来判别IC的好坏.由于IC内部大多数为直流耦合,IC损坏时(如PN结击穿或开路)会引起后级饱和与截止,使总电流发生变化.所以测总电流可判断IC的好坏。在线测得回路电阻上的电压,即可算出电流值来。
   以上检测方法,各有利弊.在实际应用中最好将这些方法结合来运用。